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A&Dグループの半導体検査・測定装置メーカー、株式会社ホロンの新本社工場が完成いたしました。
株式会社エー・アンド・デイ(本社:東京都豊島区、代表取締役執行役員社長:森島 泰信)グループの半導体検査・測定装置メーカー、株式会社ホロン(本社:東京都立川市、代表取締役社長:張 皓)の新本社工場が完成いたしました。
株式会社エー・アンド・デイ(本社:東京都豊島区、代表取締役執行役員社長:森島 泰信)グループの半導体検査・測定装置メーカー、株式会社ホロン(本社:東京都立川市、代表取締役社長:張 皓)の新本社工場が完成いたしました。
【1.新本社工場建設の目的】
お客様からの需要に応えるため、生産体制の拡大と開発・製造環境の充実をはかることを第一の目的としています。特にクリーンルームを従来の3倍のスペースに拡充し、従来の製造能力は年間10基ほどでしたが、これを年間20基超に引き上げ、次世代機の開発スペースや装置のプレゼンテーションエリアも併設しました。
また、社員が働く環境を改善し、優秀な人材を獲得するために、駅(西武拝島線 武蔵砂川駅)の近隣に建設いたしました。
【2.ホロンの主な製品】
ホロンは独自の電子ビーム技術を活かして、半導体デバイスの製造に必要な回路図の微細な回路パターンの寸法測定装置を製造・販売しています。現在、中長期に渡りお客様の先端需要に応えるためにエー・アンド・デイとシナジー効果を発揮し次世代機の開発を行っています。
<主力製品情報>
(1)フォトマスク用CD-SEM「ZX」
● ホロンがフォトマスク市場で長年培ってきた独自の高分解能技術、チャージ対策技術をさらに進化させて、sub-10nm最先端デバイス用マスク向けに開発した装置
● ナノパターンの高速・高精度計測が可能
● 収差補正技術をさらに改良し、高SNRイメージを取得
● 低真空技術によるチャージフリーSEM画像を取得、高精度計測が可能
● 多彩なアプリケーション(多点計測・輪郭抽出・2D測定・欠陥レビュー・3D表示)
(2)欠陥レビューSEM「LEXa-10」
● フォトマスク用CD-SEMで定評のある低真空技術の採用により、チャージ抑制を行いながらナノの世界を観察・分析する欠陥レビュー装置
● 低真空技術によるフォトマスク(絶縁物)の全面観察および元素分析
● 低加速電圧による高分解能、低ダメージ分析
● 光学式欠陥検査装置とのリンク機能
● 自動欠陥レビューナビゲーション(ADR)機能
ホロンは、用途に応じて各種の半導体検査・測定装置を製作し、お客様のニーズにお応えしています。
詳しくはこちらをご覧ください。
<会社概要>
会社名 :株式会社エー・アンド・デイ
本店所在地 :〒170-0013 東京都豊島区東池袋3-23-14
代表者 :代表取締役執行役員社長 森島 泰信
設立 :1977年5月
資本金 :6,388百万円
市場情報 :東証1部 7745
事業内容 :電子計測器、産業用重量計、電子天びん、医療用電子機器、試験機、
工業計測機器、その他電子応用機器の研究開発・製造・販売
会社名 :株式会社ホロン
新本社工場 :〒190-0032 東京都立川市上砂町5-40-1
代表者 :代表取締役社長 張 皓
設立 :1985年5月
市場情報 :JASDAQスタンダード 7748
資本金 :1,764百万円(2021年3月末現在)
事業内容 :半導体回路の寸法測定および検査装置の開発、製造、販売、保守サービス
<本リリースPDF>
https://www.aandd.co.jp/pdf_storage/whatsnew/2021/0820_holon.pdf
<本件に関するお問い合わせ先>
株式会社エー・アンド・デイ
TEL:03-5391-6135 販売促進部 高妻 淳史
株式会社ホロン
TEL:042-537-7990 総務部 飯嶋 優樹
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企業情報
企業名 | 株式会社エー・アンド・デイ |
---|---|
代表者名 | 森島 泰信 |
業種 | 精密機器 |
コラム
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